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纳秒脉冲激光对背照式CMOS探测器组件损伤机理研究-中国光学(中英文)2025年06期

纳秒脉冲激光对背照式CMOS探测器组件损伤机理研究

作者:王柯 刘扬 王云哲 张引 王振州 邵俊峰 字体:      

中图分类号:TJ951;O348.11 文献标志码:A doi:10.37188/CO.2025-0090 CSTR:32171.14.CO.2025-0090

Abstract: To evaluate the laser-induced damage efects on visible-light imaging systems under realistic o(试读)...

中国光学(中英文)

2025年第06期