摘要：当ATE机台进行集成电路测试时，系统会存在芯片的电参数测试条件超出ATE机台配置板卡资源的情况。因此，文章利用通用源表具备高性能测试指标的特点，设计基于ATE机台的通用源表程控系统。系统与ATE机台只须通过（试读）...
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